Hệ thống kiểm tra bề mặt của Wintriss có thể thực hiện phát hiện trực tuyến các khuyết tật trên bề mặt của lớp màng pin, điện cực pin và màng nhiều lớp nhôm thông qua nguyên tắc kiểm tra trực quan, đồng thời cung cấp thông tin chính xác về chất lượng sản phẩm. Hệ thống phát hiện khiếm khuyết dựa trên trí tuệ nhân tạo áp dụng các thuật toán tự học sâu để xác định vị trí khiếm khuyết, do đó đạt được khả năng phát hiện và phân loại khiếm khuyết.

Để đáp ứng các yêu cầu khắt khe của việc kiểm tra pin nguồn liên quan đến độ chính xác và nhất quán, hệ thống kiểm tra bề mặt được cấu hình với camera công nghiệp thông minh và phần mềm trực quan để phát hiện chính xác các khuyết tật bề mặt khác nhau trong quá trình sản xuất pin và cung cấp các hình ảnh rõ nét. Nó là thiết bị lý tưởng cho các nhà sản xuất pin giúp nâng cao hiệu quả sản xuất đồng thời đảm bảo chất lượng của sản phẩm pin.

• Phát hiện lỗi màng ngăn pin:
  lỗ, vết dầu, vết rách, sự tách lớp, điểm sáng, đường tối, đốm trắng, vết xước, khoảng trống, gel, vết lăn, vết dầu, vết nước, chất bẩn, vệt, v.v..
• Phát hiện lỗi điện cực pin:
  vết xước, lớp phủ bị thiếu, chất gây ô nhiễm, các hạt lạ, nếp nhăn, các cạnh bị lỗi, đốm đen, vết nứt, vị trí sai, sự khác biệt về màu sắc, dư lượng kim loại, vết lõm, va chạm, đường gấp, v.v..
• Phát hiện khiếm khuyết của pin nhôm nhiều lớp:
  sự va chạm, vết lõm, chất gây ô nhiễm, vết bẩn, khoảng trống, gel, không đồng đều, bọt khí, nếp nhăn, vết xước, vảy cá, cặn rỉ sét, đốm đen, mắt cá, lỗ kim, hạt lạ, v.v..